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資料說明:

每筆資料的個別檔案名稱為yMddhhmm.mdx,以2004年2月3日13時42分為例,檔案名稱即為4B031342.mdx,如下圖所示。
x為數字,x=1表示檔案為510公里高度範圍的固定頻率檔案。x=2表示檔案為510公里電離圖檔案。x=3表示檔案為1020公里高度範圍的固定頻率檔案。x=4表示檔案為1020公里電離圖檔案。
 
下載電離圖檔案後,使用者可依照如下繪製出電離圖。
1.開啟IDL程式並編譯。[範例]
2.設定各項參數(亦即觀測圖的日期、開始時間和繪製時間、觀測圖檔案屬於哪個觀測站、附檔名和儲存於哪個磁碟),設定完成後按run,繪製電離圖。[範例]
3.以觀測圖檔案儲存在C磁碟中為例,IDL程式會到C磁碟中搜尋符合設定的檔案並以電離圖型態呈現出來。使用者可經由滑鼠手動描繪出回波軌跡,IDL程式依據此回波軌跡轉換出實高對應電漿濃度關係。[範例]
4.將type of plod選單設定為scale ionogram,IDL程式將描繪出實高曲線。[範例]
 
使用者在電離圖上描繪出回波頻率對應虛高的軌跡,經由CADI軟體將依據此條軌跡上回波頻率對應虛高的座標點進行轉換,得出實際電漿濃度對應實高的關係。下圖為電離圖軌跡座標點資料。
 
ionosonde各個觀測站
站名
縮寫
經度
緯度
新竹橫山觀測站 HC 24.71 121.14
東華大學觀測站 NDHU 23.895 121.55
屏東科技大學觀測站 PT 22.65 120.60
 
屬於電離層的E層與F層的回波軌跡通常可見於電離圖中,當高頻電磁波傳播方向與地磁場有一個夾角時(非平行於地磁方向傳播時),電磁波會出現偏極化(polarization),分成電磁波電場沿地磁方向振盪的正常回波(O-mode)與電磁波電場垂直地磁方向振盪的異常回波(X-mode),會以不同的波速前進,而且在電離層發生反射的高度也不同。其中O-mode的反射點電漿密度所對應之電漿振盪頻率與該O-mode電磁波頻率相同,因此可以由O-mode的反射點高度換算該高度的電子密度。
 
在電離圖上至少呈現兩條回波軌跡,即正常回波(O-mode)與異常回波(X-mode)。有時中高緯度地區還會出現所謂Z-mode回波,偶爾出現散塊E層(Sporadic E、Es)回波,再加上二次及二次以上正常波和異常波的回波軌跡,形成我們所看到的電離圖。下列兩圖分別為2006年1月16日中壢觀測站上空的日間及夜間電離圖,橫軸表示發射頻率,縱軸表示依照傳播時間換算得到的虛高,紅色軌跡屬於正常回波,綠色軌跡屬於異常回波,實線為將正常回波之虛高轉換成實高後所換算出來的電離層電子密度所對應的電漿振盪頻率隨高度分布的情形,其中電離層電子密度最大值上方的曲線為根據理論模式與下觀測曲線擬合而成的曲線,從圖形可看出中壢觀測站上空同一天之日、夜間電離層電子密度分佈大不相同。[2]
 
ball中壢觀測站日間電離圖,摘自參考文獻[2]
 
ball中壢觀測站夜間電離圖,摘自參考文獻[2]
 

電離圖上有一些英文字母與數字構成參數名稱,也就是電離層參數,參數值表示出電離圖上的各種特性, 這些參數是由U.R.S.I. (Union Radio-Scientifique International)定義,列舉如下:

fmin 電離圖所記錄的回波之最低頻率值。
foE E區域中最低厚積塊(lowest thick stratification)的正常波之臨界頻率。
h’E 常態E層的最小虛高。
foEs 連續Es軌跡的正常波成分的峰值頻率。
h’Es Es層最小高度,為描繪出foEs之軌跡的最小虛高。
fbEs Es層的遮蔽頻率(blanketing frequency),在此頻率下,Es層初次允許電磁波自高層反射。
foF1 F1層的正常波臨界頻率。
h’F F 層的正常波軌跡的最低虛高。
h’F2 F 區域中最高穩定積塊(highest stable stratification,即F2層)正常波成分的最小虛高。
foF2 在F區域中的最高積塊(即F2層)之正常波臨界頻率。
fxI 自F區域(F1或F2層)反射記錄到的最高頻率。
MUF( 3000 ) 以傾斜發射方式經由電離層進行簡單一次反射(通常以反射層區分為MUF(3000)F2 與MUF(3000)F1)傳輸至標準距離(3000公里)以外所能使用的最高頻率。M factor :MUF(3000)與此層的臨界頻率之比值。